納米粒度儀分析儀DLS 90 主要技術指標與性能：

測量范圍：0.7nm-10um

準確性：優(yōu)于±2%

重復性：優(yōu)于±2%

樣品池容積：4ml

樣品池溫控范圍：15~50°C

散射角：90°

激光源：固體激光器（20mw/650nm）

檢測器：光子計數(shù)級光電倍增管

相關器：1000通道，小100ns采樣時間

計算機接口：USB2.0或以上

電壓：AC220V、50/60Hz

環(huán)境要求：溫度5~80°C，濕度0~90%，無冷凝

儀器體積：440×360×210mm

儀器重量：~20Kg

納米粒度儀分析儀DLS 90主要應用領域：

1、 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。

2、 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。

3、 其它粉體：如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種乳濁液等。

儀器特點

1、 采用光子計數(shù)級的高精度光電倍增管。暗計數(shù)低、光纖耦合，高速，高穩(wěn)定性。

2、 采用集成的光子相關器?；贔PGA的光子相關器，集成雙通道光子計數(shù)器，確保光子無遺漏；1000個物理通道，提供充足的測量數(shù)據(jù)；小100ns采樣時間，確保z低1nm顆粒的測量；芯片內模塊集成設計，保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。

3、 準確的溫控系統(tǒng)?；赑WM的高精度溫控系統(tǒng)，精度達到0.5°C，確保測量準確。