
當前位置:首頁 > 新聞中心納米粒度儀zeta電位分析儀原理:動態(tài)光散射與電泳光散射
在微觀尺度探索物質特性,納米粒度儀zeta電位分析儀提供了關鍵的技術手段。它主要基于兩種經典物理原理來工作:動態(tài)光散射與電泳光散射。動態(tài)光散射技術用于測定納米顆粒的流體力學直徑。其核心原理是觀測顆粒在液體中因布朗運動而產生的散射光強度波動。這些波動信號通過相關器處理,形成自相關函數(shù),再經由數(shù)學算法反演,即可計算出顆粒的尺寸大小及其分布情況。這一過程無需與樣品發(fā)生物理接觸,也無需進行復雜的預處理。對于eta電位的測量,則依賴于電泳光散射技術。當對分散體系施加一個外部電場時,帶電...粒度分析新紀元:胤煌科技FIPS系列流式動態(tài)圖像法微粒分析儀
在當今飛速發(fā)展的生物醫(yī)藥、半導體及納米材料領域,對顆粒的認知已從簡單的“大小”維度,延伸到“形貌”、“分布”及“群體統(tǒng)計學特性”的精準把控。傳統(tǒng)的激光微粒分析儀雖能高效輸出一個平均化的粒度分布結果,卻無法回答“顆粒究竟是什么形狀?”“樣品中是否存在纖維、疊片或團聚體?”等關鍵問題。正是為了攻克這一行業(yè)痛點,胤煌科技依托深厚的自主研發(fā)實力,推出了FIPS系列流式動態(tài)圖像法微粒分析儀,以其“所見即所得”的直觀分析能力和胤煌科技自主研發(fā)的強大FIPS超分辨算法的統(tǒng)計學基礎,正重新定...電話
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